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粘度/示差檢測器 產品型號: BI-2010/2020
儀器簡介: BI-2010粘度檢測器采用毛細管全橋式設計,具有高靈敏、低展寬、低噪音和節約測量時間等特點,其溫控可從室溫達到80℃。利用BI-2010可得到特征粘度,對樣品進行同樣校正,從而得到真實分子量和結構信息。特征粘度的檢測結合Mark-Houwink曲線,得到分子機構如枝接密度,...
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示差折射儀 產品型號:BI-DNDC
儀器簡介: BI-DNDC示差折射儀按測量方式區分:在靜態方式下是測量聚合物溶液dn/dc值的專用儀器。采用注射器(2~2.5mL)直接進樣,樣品溶液濃度范圍0.1~10mg/mL。在動態方式下作為凝膠色譜系統的在線示差檢測器。采用進樣閥進樣,由蠕動泵或HPLC泵驅動。
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圓盤式離心/沉降粒度儀 產品型號:BI-DCP/BI-XDC
儀器簡介: BI-DCP/ BI-XDC是基于經典的離心/沉降原理,通過高精度的數字式電機控制,是具有統計意義的粒度儀中分辨率、準確率非常高的測量儀器。廣泛應用于膠乳、碳黑、陶瓷和金屬粉末等行業的質量控制方面。
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廣角動靜態激光光散射儀 產品型號:BI-200SM
儀器簡介: 廣角激光光散射儀采用TurboCorr數字相關器,通過動態光散射的方法可以測量小至1nm的納米顆粒分布情況,通過靜態光散射的方法可測量高分子材料的Zimm、Berry、Debye曲線、分子量、均方根回旋半徑及第.二維里系數。經國內外眾多實驗室使用,證明BI-200SM是研究聚合物、膠...
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亞微米/納米激光粒度儀 產品型號:BI-90Plus
儀器簡介: 90Plus亞微米/納米激光粒度儀基于動態光散射原理,是一種快速、便捷的納米、亞微米粒度分析測試儀器。 動態光散射原理: 由于顆粒在懸浮液中的布朗運動,使得光強隨時間產生脈動。采用數字相關器技術處理脈沖信號,可以得到顆粒運動的擴散信息后,進而利用Stokes-Ei...
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儀器簡介:90Plus PALS納米激光粒度儀及高靈敏度Zeta電位分析儀是能夠精準測量低電泳遷移率體系Zeta電位的儀器,它采用的是真正的硬件PALS(相位分析光散射)技術,比其它測量Zeta電位的技術靈敏度高1000倍。
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納米激光粒度儀Zeta電位分析儀 產品型號:Omni多角度納米激光粒度儀及高靈敏度Zeta電位分析儀
儀器簡介:Omni多角度納米激光粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀結合了背向光散射技術與傳統動態光散射技術以及硬件PALS(Phase Analysis Scattering,相位分析光散射)技術,擁有15°、90°與173°三個散射角度,硬件PALS技術徹底解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的精準測量,是功能強...
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主營產品:

Chatillon測力計,納米激光粒度儀,摩擦磨損試驗機,自動熔點儀,Park Systems原子力顯微鏡,英國邁菱Mecmesin材料試驗機,聚合物測試和樣品制備系統,密度儀,折光儀,旋光儀,卡爾費休水分儀,包材檢測用熱封儀,Julabo恒溫水浴,愛色麗色度計,梅特勒熱分析儀


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