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粘度/示差检测器 产品型号: BI-2010/2020
仪器简介: BI-2010粘度检测器采用毛细管全桥式设计,具有高灵敏、低展宽、低噪音和节约测量时间等特点,其温控可从室温达到80℃。利用BI-2010可得到特征粘度,对样品进行同样校正,从而得到真实分子量和结构信息。特征粘度的检测结合Mark-Houwink曲线,得到分子机构如枝接密度,...
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示差折射仪 产品型号:BI-DNDC
仪器简介: BI-DNDC示差折射仪按测量方式区分:在静态方式下是测量聚合物溶液dn/dc值的专用仪器。采用注射器(2~2.5mL)直接进样,样品溶液浓度范围0.1~10mg/mL。在动态方式下作为凝胶色谱系统的在线示差检测器。采用进样阀进样,由蠕动泵或HPLC泵驱动。
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圆盘式离心/沉降粒度仪 产品型号:BI-DCP/BI-XDC
仪器简介: BI-DCP/ BI-XDC是基于经典的离心/沉降原理,通过高精度的数字式电机控制,是具有统计意义的粒度仪中分辨率、准确率非常高的测量仪器。广泛应用于胶乳、碳黑、陶瓷和金属粉末等行业的质量控制方面。
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广角动静态激光光散射仪 产品型号:BI-200SM
仪器简介: 广角激光光散射仪采用TurboCorr数字相关器,通过动态光散射的方法可以测量小至1nm的纳米颗粒分布情况,通过静态光散射的方法可测量高分子材料的Zimm、Berry、Debye曲线、分子量、均方根回旋半径及第.二维里系数。经国内外众多实验室使用,证明BI-200SM是研究聚合物、胶...
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亚微米/纳米激光粒度仪 产品型号:BI-90Plus
仪器简介: 90Plus亚微米/纳米激光粒度仪基于动态光散射原理,是一种快速、便捷的纳米、亚微米粒度分析测试仪器。 动态光散射原理: 由于颗粒在悬浮液中的布朗运动,使得光强随时间产生脉动。采用数字相关器技术处理脉冲信号,可以得到颗粒运动的扩散信息后,进而利用Stokes-Ei...
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仪器简介:90Plus PALS纳米激光粒度仪及高灵敏度Zeta电位分析仪是能够精准测量低电泳迁移率体系Zeta电位的仪器,它采用的是真正的硬件PALS(相位分析光散射)技术,比其它测量Zeta电位的技术灵敏度高1000倍。
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纳米激光粒度仪Zeta电位分析仪 产品型号:Omni多角度纳米激光粒度仪及高灵敏度Zeta电位分析仪
仪器简介:Omni多角度纳米激光粒度与高灵敏度Zeta电位分析仪结合了背向光散射技术与传统动态光散射技术以及硬件PALS(Phase Analysis Scattering,相位分析光散射)技术,拥有15°、90°与173°三个散射角度,硬件PALS技术彻底解决了低电泳迁移率体系Zeta电位的精准测量,是功能强...
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主营产品:

Chatillon测力计,纳米激光粒度仪,摩擦磨损试验机,自动熔点仪,Park Systems原子力显微镜,英国迈菱Mecmesin材料试验机,聚合物测试和样品制备系统,密度仪,折光仪,旋光仪,卡尔费休水分仪,包材检测用热封仪,Julabo恒温水浴,爱色丽色度计,梅特勒热分析仪


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