Park Systems 帕克原子力顯微鏡XE7
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產品名稱: Park Systems 帕克原子力顯微鏡XE7
產品型號: Park Systems 原子力顯微鏡XE7
產品展商: 韓國Park Systems
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簡單介紹
Park Systems 原子力顯微鏡XE7.
核心參數：
樣品臺移動范圍：13mm*13mm
樣品尺寸：直徑≤100mm, 厚度≤20mm
定位檢測噪聲：Z≤0.03(typical) 0.05(maximum)
產地類別：進口儀器
Park Systems 帕克原子力顯微鏡XE7
的詳細介紹
高性能
在同級產品中，Park XE7能夠帶來高納米級分辨率的測量效果。得益于獨特的原子力顯微鏡架構，即獨立的XY軸和Z軸柔性掃描器，XE7能夠實現平滑、正交且線性的掃描測量，從而精準成像和測量樣品的特征。此外，Park的True
Non-Contact™模式還能為您帶來很好的圖像效果，探針可以在多次掃描后圖像的分辨率仍不會受影響。
滿足當前和未來需求
在Park
XE7的幫助下，現在與未來皆在您的掌控中。Park XE7帶有業內很全的測量模式。這些模式不僅能滿足您目前的需求，也考慮到未來不斷變化的需求。再者，XE7具有市場上開放性的設計，允許您整合其他附件和儀器，從而滿足您特殊的研究需求。
易于使用和高生產率
Park XE7擁有簡潔的圖形用戶界面和自動化工具，即便是初學者也可以快速地完成對樣品的掃描。無論是預準直探針、簡單的樣品和探針更換、輕松的激光準直、自上而下的同軸視角以及用戶友好型掃描控制和軟件處理，XE7能夠全力推動研究效率的提高。
經濟實惠超越了系統成本
Park XE7中所搭載的True
Non-Contact™模式讓用戶無需頻繁更換昂貴的探針尖.端，并且它配有業內很多的掃描模式，兼容性優良，讓您可隨時升級系統功能，從而延長產品的使用壽命。Park XE7配有Park
Systems的所有的技術，XE7在細節的設計上也相當用心。
技術參數
XY掃描器
閉環控制式單模塊柔性XY掃描器。
掃描范圍: 50 μm × 50 μm (可選
100 μm×100 μm, 10 μm×10 μm )
Z掃描器
柔性引導高力度掃描器
掃描范圍: 12 μm (可選 25
μm)
樣品臺
XY臺工作范圍:
13 × 13 mm
Z臺工作范圍:
29.5 mm
聚焦臺工作范圍: 70 mm
光學系統
可觀察樣品和探針的直視同軸光學系統
10X 物鏡 (可選20X）
視場: 480 × 360 μm
CCD: 1M像素（像素分辨率: 0.4 μm）
電路系統
高性能DSP
: 600 MHz with 4800 MIPS
*大圖像尺寸:
4096 x 4096像素, 16個數據圖像
信號輸入：在500kHz取樣時,
16位ADC的20個通道
信號輸出：在500kHz取樣時,
16位ADC的21個通道
同步信號：圖像結束, 線結束及像素結束TTL信號
主動Q控制(選配)
懸臂梁彈性常數校準(選配)
CE Compliant
電源 :
120 W
信號處理模塊 (選配)